Pavel Jelínek

Nová metoda umožňuje provádět chemickou identifikaci jednotlivých atomů na površích pevných látek pomocí techniky AFM (Atomic Force Microscope) operující v dynamickém modu, známém jako DFM (Dynamic Force Microscopy). Metoda byla ověřena na polovodičovém povrchu obsahujícím různé chemické prvky.