Pavel Jelínek

Nová metoda umožňuje provádět chemickou identifikaci jednotlivých atomů na površích pevných látek pomocí techniky AFM (Atomic Force Microscope) operující v dynamickém modu, známém jako DFM (Dynamic Force Microscopy). Metoda byla ověřena na polovodičovém povrchu obsahujícím různé chemické prvky.
Publikováno: 01.03.2007 13:18 v rubrice: Fyzika
Autor: Pavel Jelínek Zobrazeno: 20694x   Diskuze: 6





Tento web používá k poskytování služeb, personalizaci reklam a analýze návštěvnosti soubory cookie. Používáním tohoto webu s tím souhlasíte. Další informace